Descripción:
Los espectrómetros de fibra óptica de LAM Research son dispositivos de monitoreo óptico de alta precisión integrados en equipos de procesamiento de obleas de semiconductores. Principalmente emparejados con módulos ópticos profesionales, adoptan un diseño de transmisión por fibra óptica para capturar la emisión de plasma, la reflexión y los espectros de transmisión dentro de las cámaras de proceso. Ampliamente utilizados para la detección del punto final de grabado, la metrología de películas delgadas y el monitoreo en tiempo real de las condiciones del plasma, estas unidades garantizan un rendimiento de proceso estable, mejoran el rendimiento de producción y reducen los productos defectuosos en procesos de grabado, CVD, PVD y otros procedimientos de fabricación al vacío. Como componentes compatibles OEM originales, presentan excelente compatibilidad y fiabilidad a largo plazo para las herramientas de proceso de la serie completa de LAM.
Especificaciones clave:
- Equipados con detectores CCD/PMT de alta sensibilidad, que ofrecen una resolución espectral sobresaliente y bajo ruido. Cubren el rango de longitudes de onda UV-visible para satisfacer diversas demandas de monitoreo de procesos de semiconductores.
- Las interfaces estándar de fibra SMA admiten transmisión de señales a larga distancia. Las sondas compatibles con vacío funcionan de forma estable en entornos de alto vacío, alta temperatura y plasma.
- El análisis espectral en tiempo real permite un juicio preciso del punto final de grabado, el espesor de películas delgadas y la medición de propiedades ópticas, evitando eficazmente el sobregrabado y el subgrabado.
- Puertos de comunicación Ethernet y RS-232 integrados, totalmente compatibles con los protocolos de equipos LAM para una interacción de datos y enlace de sistemas sin interrupciones.
- Estructura compacta y robusta con capacidad antivibración y antiinterferencias. Admite operación continua 24/7 y fácil reemplazo en sitio.
Aplicaciones típicas:
- Sistemas de grabado de plasma, equipos de deposición de películas delgadas CVD, PVD y ALD
- Detección del punto final en procesos de grabado de obleas
- Medición in situ del espesor de películas delgadas y la reflectancia
- Análisis en tiempo real del estado del plasma en cámaras de proceso al vacío
- LAM Research 2300, 9400, ExAL y otras plataformas de proceso principales
Preguntas frecuentes:
P1:¿Cuál es la condición del producto y la garantía?
R:Artículos nuevos y originales. Garantía de 1 año incluida.
P2:¿Cuáles son sus condiciones de pago?
R:T/T, Paypal admitidos.
P3: ¿Cuál es el tiempo de entrega del producto? ¿Hay suficiente inventario?
R:Modelos estándar en stock, enviados en 3–5 días hábiles después del pago. Los modelos escasos requieren pedido al fabricante—contacte al servicio de atención al cliente para los plazos.
P4:Envío y seguimiento
R:DHL/FedEx/UPS disponibles. Número de seguimiento + enlace proporcionados tras el envío. Monitoreo de todo el proceso por nuestro equipo.
P5:Empaque y seguridad
R:Empaque original de la marca con protección reforzada (espuma, cajas selladas, cajas de madera para equipos de precisión). Resistente a la humedad y a los impactos.