Descripción:
Los espectrómetros de fibra óptica de LAM Research son dispositivos de monitoreo óptico de alta precisión integrados para equipos de procesamiento de obleas semiconductoras. Principalmente acoplados a módulos ópticos profesionales, adoptan un diseño de transmisión por fibra óptica para capturar la emisión de plasma, así como espectros de reflexión y transmisión dentro de las cámaras de proceso. Ampliamente utilizados para la detección del punto final de grabado, metrología de películas delgadas y monitoreo en tiempo real de las condiciones del plasma, estas unidades garantizan un rendimiento estable del proceso, mejoran el rendimiento de producción y reducen productos defectuosos en procesos de grabado, CVD, PVD y otros procedimientos de fabricación al vacío. Como componentes compatibles OEM originales, ofrecen excelente compatibilidad y fiabilidad a largo plazo para las herramientas de proceso de la serie completa de LAM.
Especificaciones clave:
- Equipados con detectores CCD/PMT de alta sensibilidad, que ofrecen una excelente resolución espectral y bajo ruido. Cubren el rango de longitud de onda UV-visible para satisfacer diversas demandas de monitoreo de procesos semiconductores.
- Las interfaces de fibra SMA estándar admiten transmisión de señales a larga distancia. Las sondas compatibles con vacío funcionan de manera estable en entornos de alto vacío, alta temperatura y plasma.
- El análisis espectral en tiempo real permite un juicio preciso del punto final de grabado, medición del espesor de películas delgadas y de las propiedades ópticas, evitando eficazmente el sobregrabado y el subgrabado.
- Puertos de comunicación Ethernet y RS-232 integrados, totalmente compatibles con los protocolos de equipos LAM para una interacción de datos fluida y enlace de sistemas sin interrupciones.
- Estructura compacta y robusta con capacidad antivibración y antiinterferencias. Admite operación continua 24/7 y fácil reemplazo en sitio.
Aplicaciones típicas:
- Sistemas de grabado por plasma, equipos de deposición de películas delgadas CVD, PVD y ALD
- Detección del punto final en procesos de grabado de obleas
- Medición in situ del espesor de películas delgadas y reflectancia
- Análisis en tiempo real del estado del plasma para cámaras de proceso al vacío
- LAM Research 2300, 9400, ExAL y otras plataformas de proceso principales
Preguntas frecuentes:
Q1: ¿Cuál es la situación del producto y la garantía?
A: Productos originales completamente nuevos. Garantía de 1 año incluida.
Q2: ¿Cuáles son sus condiciones de pago?
A: Se admite T/T, Paypal.
Q3: ¿Cuál es el plazo de entrega del producto? ¿Hay suficiente inventario?
A: Modelos estándar en stock, enviados en 3–5 días hábiles después del pago. Los modelos escasos requieren pedido al fabricante—contacte al servicio al cliente para los plazos.
Q4: Envío y seguimiento
A: DHL/FedEx/UPS disponibles. Número de seguimiento + enlace proporcionados después del envío. Monitoreo de todo el proceso por nuestro equipo.
Q5: Embalaje y seguridad
A: Embalaje original de la marca con protección reforzada (espuma, cajas selladas, cajas de madera para equipos de precisión). Resistente a la humedad y a los impactos.