Descripción:
Los espectrómetros de fibra óptica de LAM Research son dispositivos de monitoreo óptico de alta precisión integrados para equipos de procesamiento de obleas de semiconductores. Principalmente acoplados con módulos ópticos profesionales, adoptan un diseño de transmisión por fibra óptica para capturar la emisión de plasma, la reflexión y los espectros de transmisión dentro de las cámaras de proceso. Ampliamente utilizados para la detección del punto final de grabado, la metrología de películas delgadas y el monitoreo en tiempo real de las condiciones del plasma, estas unidades garantizan un rendimiento estable del proceso, mejoran el rendimiento de producción y reducen los productos defectuosos en procesos de grabado, CVD, PVD y otros procedimientos de fabricación en vacío. Como componentes compatibles OEM originales, cuentan con una excelente compatibilidad y fiabilidad a largo plazo para las herramientas de proceso de la serie completa de LAM.
Especificaciones clave:
- Equipados con detectores CCD/PMT de alta sensibilidad, ofrecen una excelente resolución espectral y bajo nivel de ruido. Cubren el rango de longitud de onda UV-visible para satisfacer diversas necesidades de monitoreo de procesos de semiconductores.
- Las interfaces estándar de fibra SMA admiten transmisión de señal a larga distancia. Las sondas compatibles con vacío funcionan de manera estable en entornos de alto vacío, alta temperatura y plasma.
- El análisis espectral en tiempo real permite una evaluación precisa del punto final de grabado, el espesor de películas delgadas y la medición de propiedades ópticas, evitando eficazmente el sobregrabado y el subgrabado.
- Puertos de comunicación Ethernet y RS-232 integrados, totalmente compatibles con los protocolos de equipos LAM para una interacción de datos fluida y conexión del sistema.
- Estructura compacta y robusta con capacidad antivibración y antiinterferencias. Soporta operación continua 24/7 y fácil reemplazo en sitio.
Aplicaciones típicas:
- Sistemas de grabado por plasma, equipos de deposición de películas delgadas CVD, PVD y ALD
- Detección del punto final en procesos de grabado de obleas
- Medición in situ del espesor de películas delgadas y de la reflectancia
- Análisis en tiempo real del estado del plasma en cámaras de proceso en vacío
- LAM Research 2300, 9400, ExAL y otras plataformas de proceso principales
Preguntas frecuentes:
Q1: ¿Cuál es la situación del producto y la garantía?
A: Artículos originales nuevos. Garantía de 1 año incluida.
Q2: ¿Cuáles son sus condiciones de pago?
A: T/T, Paypal compatible.
Q3: ¿Cuál es el plazo de entrega del producto? ¿Hay suficiente inventario?
A: Modelos estándar en stock, envío en 3–5 días hábiles después del pago. Los modelos escasos requieren pedido al fabricante—contacte con atención al cliente para los plazos.
Q4: Envío y seguimiento
A: DHL/FedEx/UPS disponibles. Número de seguimiento + enlace proporcionado tras el envío. Monitoreo de todo el proceso por nuestro equipo.
Q5: Empaque y seguridad
A: Empaque original de la marca con protección reforzada (espuma, cajas selladas, cajas de madera para equipos de precisión). Resistente a la humedad y a los impactos.